为满足测试要求，提供了高频探针的各种系列。选择标准包括待搭接的测试点、频率和/或数据速率。射频探针同轴测试点 旋转对称型高频探针用于同轴测试点（如 SMA, U.F, 微型开关）。接触头是基于插接件的设计射频探针位置定向型测试点为确保位置定向型测试点（如电路板信号接地） 的搭接，要使用防扭转高频探针。
　　标准的高频探针：在各频率范围都有为同轴和位置定向型测试点设计的标准高频探针。高频探针既可以将其插入，也可以将其以螺钉栓住在接触式针套中。针对位置定向型测试点，高频探针是相应对齐的。为了补偿同轴测试点的装配公差，提供了带固定式和自由移动式悬挂的接触式针套。连接是通过一个 MCX 插接件装置进行的（使用 MMPXTM 的 HFS-865 系列）。
　　短型的高频探针：短高频探针是针对以下应用用途设计的，该应用用途因为可用空间有限而无法使用标准高频探针。
　　法兰式的高频探针：(HFS-822):带固定法兰的高频探针，这种设计是为了确保搭接过程中不存在电缆移动现象。这样，就确保了信号传输。(HFS-856/819):带有法兰和自由移动（浮动）接触头的高频探针能对齐测试点，并确保具有良好和可重复的测量质量。对装配公差进行了 补偿，因此，在搭接过程中因不同心度而产生的侧向力是可以避免的。
　　多样性的高频探针：（HFS-864）:除了典型的射频探针，INGUN 还提供了偶极测量（四极测量）专用的其他测试探针和电力传输专用的 PIM 稳定型射频探针，及更多其他探针:DPS-215, DPS-465, HFS-010, HFS-110, HFS-409, HFS-864。